测试之光系列讲座（一八七）—— X射线吸收精细结构谱（XAFS）的原理与应用

各师生用户：

XAFS（全称X-ray Absorption Fine Structure），即X射线吸收精细结构谱，是用于描绘局部结构最强有力的工具之一。在此技术中，将X射线能量调整至与所研究的元素中内电子层一致，再用于探测样品，然后监测吸收的X射线数量与其能量的函数关系。如果采用足够的精确度，光谱会展现出小的振荡，那是局部环境对目标元素基本吸收概率影响的结果。从光谱中，我们还能得到吸收原子与邻近原子的间距、这些原子的数量和类型以及吸收元素的氧化状态，这些都是确定局部结构的参数。

此次讲座邀请了美国量子科学easyXAFS应用工程师顾钧文，毕业于英国伦敦大学学院，在材料、催化方面的表征应用有丰富经验。

一、时间

2024年11月5日（周二）上午9:30-11:00

二、地点

大学城校区科技北楼301会议室

三、其他

本讲座无学术条！

因场地有限，本次讲座总人数为30人。后续会根据应用需求情况不定期组织举办相关技术交流活动，若带来不便，敬请谅解。

四、报名

请想要参加此次活动的老师和学生请联系白杰老师（邮箱baijie6@gdut.edu.cn），报名成功以收到邮件回复为准。报名截止时间2024年11月1日16点。

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2024年10月31日