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测试之光系列讲座(一八六)——XRF在新材料开发中的应用

发布日期:2024-10-28    作者:     来源:     点击:

各师生用户:

波长色散型X射线荧光光谱仪(WDXRF)主要用于材料中元素定性、元素含量半定量或定量分析。因其具备对样品适应性强、分析精度高、稳定性高、分析速度快、无损检测、检测范围宽等特点,所以被广泛应用于环境、化工、材料、能源、冶金、陶瓷、集成电路、食品等领域。此次讲座邀请到Thermo Fisher公司高级应用工程师陈同同先生为我们介绍“XRF在新材料开发中的应用”,欢迎大家关注和参加。具体通知如下:

一、时

2024年10月30日(周三)上午10:00-11:30

二、地

大学城校区科技北楼401会议室

三、主讲嘉宾

陈同同,毕业于中南大学,目前为赛默飞世尔科技(中国)有限公司常量元素分析应用工程师。在元素分析领域有着十年的经验,尤其在催化剂和金属材料方面有着较深的造诣。

四、讲座内容

1. 金属制品、钻屑分析检测应用案例;

2. 镀层分析检测应用案例;

3. 多层薄膜材料分析检测应用案例;

4. 滤膜分析检测应用案例;

5. 微区分析、面分析检测应用案例;

6. 环境监测、固废处理分析检测应用案例;

7. 锂电行业分析检测应用案例;

8. 玻璃分析检测应用案例。

五、其他

因场地有限,本次活动只面向老师和研二年级以上学生,总人数为60人。后续会根据应用需求情况不定期组织举办相关技术交流活动,若带来不便,敬请谅解。

六、报名

请想要参加此次活动老师和学生扫描下方二维码,参与报名,报名截止时间2024年10月29日晚上20点。

分析测试中心

2024年10月28日


友情链接

电话:020-39349149     中心网站:http://atc.gdut.edu.cn/
E-mail:cszx01@gdut.edu.cn
地址:广州市番禺区大学城外环西路100号广东工业大学(大学城校区)科技北楼

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