精测半导体 智引新未来 ---分析测试中心成功举办第六届分析测试技术与管理年会

为进一步服务学校高质量内涵式发展和产业前沿研究，切实为学校和社会提供“科学、公正、高效、精准”的测试保障和科研支撑。分析测试中心于2024年12月20日在学校大讲堂第二会议室举办第六届分析测试技术与管理年会暨半导体产业分析测试技术研讨会，本次会议以“精测半导体 智引新未来”为主题，聚焦前沿半导体产业研究及分析测试技术。学校副校长余林教授出席活动并致辞。国家纳米科学中心研究员丁黎明、福州大学化学化工学院教授孙建军、上海科技大学物质科学与技术学院教授于奕、中国科学院化学研究所研究员李猛、工业和信息化部电子第五研究所高级工程师石高明等11位业内知名专家和同行应邀参加本次研讨会并作主旨发言。来自学校科技处、人事处、产业技术与研究院、集成电路学院、信息与工程学院、轻工化工学院、材料与能源学院等相关负责人、教授、师生代表共100余人齐聚一堂，共话半导体产业技术研究前沿。

开幕式由分析测试中心主任霍延平主持。学校副校长余林教授在开幕致辞中向大家介绍了学校的基本概况和中心的发展历史，他指出近年来学校高度重视学术研究和产业对接，积极贯彻落实省委“1310”具体部署，立足学校特色优势，着眼核心芯片、人工智能、光通信、集成电路等重点领域的科技攻关，坚持与产业深度融合，高质量服务经济建设主战场，他希望能以此次研讨会为契机，为我校半导体产业分析测试服务搭建更多的学术交流与合作平台，为共同推动我国半导体产业高质量发展，助力粤港澳大湾区建设。

本次研讨会分三个子专题进行，分别由华南理工大学材料学院教授苏仕健、广东工业大学信息工程学院院长韩国军、广东省科学院半导体研究所王巧主持。

国家纳米科学中心丁黎明研究员、福州大学孙建军教授、中国科学院化学所李猛研究员、上海科技大学于奕教授以及我校霍延平教授和刘远教授分别以《钙钛矿半导体研究进展和未来》、《半导体制程中湿电子化学品的化学测量》、《圆偏振电致发光材料与器件》、《卤化物钙钛矿材料的低剂量透射电子显微表征》、《大环类TADF发光材料应用研究》和《半导体器件的低频噪声特性及其可靠性应用：以TFT为例》为题，分享了他们在半导体材料和器件研究的最新进展和成果。

华南理工大学严克友教授、工业和信息化部电子第五研究所石高明高级工程师、赛默飞世尔科技有限公司佘英哲工程师、青岛盛瀚色谱技术有限公司王晓娇工程师、硕成集团利尔公司研发部何念经理分别以《无机钙钛矿光伏及其叠层》、《EOTPR应用于器件封装级失效定位研究》、《分子光谱技术在半导体材料分析中的应用与进展》、《离子色谱在半导体行业应用场景介绍》和《孔金属化制程可靠性的研究-纳米空洞》为题从多个维度分享了先进半导体检测技术及热点应用案例。

会后，与会人员在分析测试中心主任霍延平教授的带领下，参观了中心实验室，就中心建设、设备规划及测试管理工作进行了深入的交流。至此，第六届分析测试技术与管理年会圆满落幕。