测试之光系列讲座（一八〇）——原位扫描电镜技术最新进展及案例分析

各师生用户：

原位表征是指对物质的物理或化学反应过程中的成分、结构以及形态变化进行同步分析。近年来，基于高分辨扫描电子显微镜（SEM）的原位表征技术进展迅速，并且在材料科学和生命科学领域得到了广泛的应用。为了让大家更进一步了解SEM及其原位应用技术，分析测试中心将举办测试之光系列讲座（一八〇）——原位扫描电镜技术最新进展及案例分析，欢迎大家关注和参加。现将相关事项通知如下：

一、时  间

2024年10月16日（周三）9:30--12:00

二、地  点

大学城校区科技南楼一楼学术报告厅

三、主讲人

温子丰，卡尔蔡司研究显微镜部门资深应用工程师，主要负责材料科学和工业原材料领域的显微成像和分析，对金属材料、高分子聚合物、半导体材料的原位表征和微区加工有丰富的支持经验。多次协助国内显微镜用户解决应用问题并发表高质量研究论文。

四、讲座内容

本报告基于分析测试中心107室的“微区表征关联分析系统（SEM关联系统）”，将详细介绍扫描电镜及其原位技术的最新进展，以及其在高分子材料、金属材料、能源及催化材料研究中的应用案例，为材料科学、环境能源、化工、生物医药等领域研究提供新思路。

分析测试中心

2024年10月10日