测试之光系列讲座（一五五）——多样化微区表征关联分析系统（SEM+Raman）在材料科学研究中的应用

为更好地服务和支撑学校师生科研、教学需求。分析测试中心特邀Zeiss公司温子丰、蒋桥红两位应用工程师于2023年12月28日进校开展《多样化微区表征关联分析系统（SEM+Raman）在材料科学研究中的应用》专题讲座。本次讲座将探讨微区关联分析系统在学校各学院材料科学研究中的应用以及详细介绍Zeiss G360扫描电镜的主要技术特点、应用以及与X射线科研CT的联用及介绍。欢迎广大师生用户积极参与，希望能为您的研究课题带来新的助力！

一、讲座时间

2023年12月28日上午9:30

二、讲座地点

科技北楼401会议室

三、讲座内容

1.微区关联分析系统的介绍及应用

2.Zeiss G360 扫描电镜的主要技术特点及应用

3.Zeiss X射线科研CT介绍

四、主讲嘉宾介绍

温子丰，卡尔蔡司研究显微镜部门资深应用工程师，主要负责材料科学和工业领域的电子显微镜成像和分析应用，对金属材料、高分子聚合物、半导体材料和器件等的原位分析表征和FIB微区加工有丰富的支持经验。

蒋桥红，蔡司X射线显微镜应用专家，负责X射线显微镜应用支持与开发，为不同领域的的用户提供X射线三维无损成像解决方案，解决应用难题。在图像获取及数据分析方面有非常丰富的经验。

五、联系人

分析测试中心光谱分析室 宋巍老师 39262872

分析测试中心

2023年12月22日