测试之光系列讲座（二二七）——透射电镜原位电学/力学测试解决方案及台式扫描电镜国产化进展

电子显微镜技术作为材料科学、生命科学、微电子等前沿领域的核心表征手段，其原位测试能力与国产化进程直接关系到科研创新的深度与自主可控的水平。为帮助师生及时掌握透射电镜原位电学/力学测试的前沿技术方案，了解台式扫描电镜国产化的最新成果与发展趋势，搭建学术交流与技术共享的平台，分析测试中心将举办测试之光系列讲座——透射电镜原位电学/力学测试解决方案及台式扫描电镜国产化进展，欢迎大家关注和参加。现将相关事项通知如下：

一、时间

2025年11月5日（周三）9:30--12:00

二、地点

大学城校区科技北楼301智慧培训与共享空间

三、讲座内容

电子显微镜（TEM&SEM）是微纳米尺度结构及特性分析的关键工具。近年来透射电镜原位表征技术持续突破，借助专用样品杆与EDS、EELS等附件，可以实现样品结构及物理特性演变的实时观测。本次讲座将聚焦透射电镜原位电学/力学测试解决方案及实际应用案例，同时系统汇报台式扫描电镜的国产化最新进展与未来发展愿景，旨在为师生普及原位透射电镜核心技术，为相关领域科研工作的开展提供有力支撑。

四、嘉宾介绍

陈选羽，安徽泽攸科技有限公司应用工程师，2018年毕业于中国科学院，加入安徽泽攸科技有限公司。

五、联系人

郭老师    电话：020-39262891

分析测试中心    

2025年10月28日