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测试之光系列讲座(二零三)——辐照敏感锂金属的透射电子显微学研究

发布日期:2025-04-02    作者:     来源:     点击:

各师生用户:

为更好地服务广大师生用户,提升对先进透射电子显微技术理解及应用,分析测试中心将举办测试之光系列讲座(二零三),欢迎大家关注和参加。现将相关事项通知如下:

一、时

2025年410日(周四)上午9:30

二、主

《辐照敏感锂金属的透射电子显微学研究》

三、地

科技南楼学术报告厅

四、主讲人

于奕,上海科技大学物质科学与技术研究员,长聘副教授,博士生导师。2008年获得北京科技大学材料物理学士学位,2013年获得清华大学材料科学与工程博士学位,2014-2017年在美国加州大学伯克利分校从事博士后研究,2017年至今在上海科技大学物质科学与技术学院工作。长期从事像差校正电子显微学研究,在上海科技大学组建独立课题组后,致力于发展低剂量像差校正成像技术,并应用于辐照敏感新能源材料微观结构的研究,在卤化物钙钛矿材料、锂金属材料等敏感半导体和金属材料的原子结构分析取得进展,研究结果以通讯作者形式发表在Nature,Nature Communications, Journal of the American Chemistry Society,Nano Letters, Ultramicroscopy等学术期刊发表。

欢迎广大师生用户积极参与。

五、联系人

分析测试中心  陈雨婷老师  39262997




分析测试中心  

2025年4月2日  


友情链接

电话:020-39349149     中心网站:http://atc.gdut.edu.cn/
E-mail:cszx01@gdut.edu.cn
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