中心成功举办原位电子能谱技术分析技术及其应用专题讲座

随着科学技术的飞速发展，当今科学仪器发展为适应科技创新需求，朝着高分辨、超快、原位分析等方向的研究迅猛发展。为了让我校师生更了解原位电子能谱技术分析技术及其应用，5月11日下午，分析测试中心在科技南楼一楼学术报告厅举办测试之光系列讲座（第120期）。清华大学分析中心研究员，国家电子能谱中心副主任姚文清应邀出席担任主讲嘉宾，分析测试中心主任霍延平接待并参与本次活动。本次讲座吸引我校300余名师生积极参与，讲座由分析测试中心副主任吴其光主持。

电子能谱技术主要用于表征纳米材料表面的化学组分、原子排列以及电子状态等信息，是纳米材料在原子级别进行表面分析的重要分析工具，是基于分析各种冲击粒子（电子、离子、原子等）和光子与原子分子或固体间碰撞后产生的电子能量，在材料科学、物理学、化学、半导体以及环境等领域具有重要的应用价值。

讲座中，姚文清研究员结合自身多年研究就原位电子能谱的基本原理、仪器结构、多场耦合等方面，系统介绍电子能谱技术在微电子器件、催化剂、材料保护、表面改性以及功能薄膜材料等方面的分析方法。

现场师生还就“XPS样品制样方法对C/O元素吸附量及价态表征的影响”“从表面分析角度解释FIB切片过程中引入C/O污染元素”等问题踊跃提问，姚老师的耐心解答和无私分享让大家对原位电子能谱技术分析技术及其应用有了更深刻的理解。

测试之光系列讲座与培训是学校分析测试中心多年来精心打造的测试育人项目，旨在通过邀请校内外专家开展专题讲座、理论及实操培训让更多地师生深入了解大型仪器设备的使用原理、测试方法、应用领域和最新研究进展。接下来分析测试中心将以测试之光工作室为依托进一步探索支持学校科研建设和人才培养的新举措新路径，做好测试服务与育人工作，全力支撑学校“1+2+3”攀撑计划学科提升工程的实施，为学校高质量内涵式发展点亮测试之光。