5月15日至17日，日立场发射扫描电镜应用技术培训在我校分析测试中心顺利举行。日立高新全球高级应用专家竹内秀一工程师和王飞飞工程师共同担任本次培训的主讲人。两位工程师具有多年全球应用支持经验，对场发射扫描电镜样品测试具有十分丰富的操作经验和理论基础。
在培训期间，两位工程师就场发射扫描电镜测试条件选择及样品制备做了深入的理论讲解，并且针对疑难样品现场操作演示。本次培训让参与的师生对场发射扫描电镜测试有了更深入的了解，也为大家提供了一个广泛交流的机会，对今后的样品测试和科学研究大有裨益。
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