11月28日，中心邀请北京科技大学新金属材料国家重点实验室分析测试中心主任、质量负责人乔祎高工作客中心。乔祎高工在中心许燕滨主任的陪同下参观了实验室，并为我校师生作了题为“聚焦离子束FIB技术在材料研究中的应用”的精彩学术报告。
乔祎高工是全国电镜协会理事，全国冶金物理测试信息网电子光学专业副主任委员，全国FIB专业委员会委员，北京市优秀青年工程师；她从事材料的微观组织结构表征和磁学特性表征及极其机理性研究等方面的科研与测试工作。乔老师在报告中介绍了FIB设备原理及其基础应用和两个重要应用--基于FIB技术制备TEM样品和3D构建（形貌、元素、晶体结构）。现场师生对3D重构技术细节、硬质合金多层薄膜材料TEM切片技术难点等问题兴趣浓厚，纷纷提问交流。乔老师将理论与实践相结合，介绍了很多详尽的实例，解答师生的各种疑问，尤其她分享了不少好的分析测试方法，使得在座的师生受益匪浅。
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