12月24日，测试之光系列讲座第四十三讲--扫描拉曼联用及X射线成像技术交流讲座在科技北楼分析测试中心顺利举行。本次讲座由中心微区分析室和光谱分析室组织、吴焱学老师主持。
本次讲座主要内容围绕RISE关联扫描电镜-拉曼成像技术及三维X射线显微镜在材料科学等领域最新应用展开。讲座中卡尔蔡司显微镜业务部的两位高级资深应用技术专家张芳工程师和曹春杰工程师分别就扫描电镜-拉曼联用成像和X射线显微镜领域的最新发展和应用情况作了详细而精彩的报告。
此次讲座交流吸引了来自全校各个学院的60多名师生参加。交流期间，师生们积极参与，就科研期间碰到的相关学术问题与工程师展开了讨论，现场气氛十分热烈。
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