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物性分析
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热电参数测试系统
2016-09-09 10:35   审核人:


仪器品牌:嘉仪通科技有限公司/中国武汉

仪器型号:Namicro-3L

主要技术指标:

   1. 可测量样品形态:固体块状样品和薄膜样品均可测试;

   2. 样品尺寸范围:块体样品:长条形,长×宽:( 2~5)×(2~5)mm 高度:8~ 15mm;薄膜样品:长方形,长×宽:(10~18×8~15mm(厚度可低至100nm);

   3. 相对误差精度:塞贝克系数≤ 6%,电阻率≤ 5%;

   4. 分辨率:塞贝克系数:0.05µV/K; 电阻率: 0.05 µΩ·m;

   5. 温度范围和方式:自动控温,RT-800 (温度可扩展至1200);

   6. 测试的真空度:1~50 Pa;

   7. 测量范围:塞贝克系数: S ≥ 8 µV/K;电阻率:0.1 µΩm ~100 kµΩ·m。

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