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物性分析
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X-射线单晶衍射仪
2016-09-09 10:32   审核人:

仪器品牌:布鲁克AXS 有限公司/德国

仪器型号:D8VENTURE

主要技术指标:

1. X-射线发生器:适用于CuMo双靶

   1Mo光源:50W微焦斑Mo靶光管,配置多层膜人工透镜;

   2Cu光源:50 W微焦斑Cu靶光管,配置多层膜人工透镜;

   3)焦斑尺寸:不大于Φ35m2 (circle)

   4)允许CuMo双靶真空环境下自动切换。

2. 四圆测角仪KAPPA

   1Kappa晶体摆动轴:-175~+175deg

   2Phi(样品自旋)-360~+360deg

   3探测器测量园:-148deg~+159deg

   4Omega晶体转动园: -270deg~ +280deg

   5)球差≤7微米。

3. 超大面积PHOTONII 积分像素阵列二维探测器

   1)硅阵列芯片;

   2)有效检测面积对角线为 172 mm;面积:100mm * 140mm;

   3)速度0s(读数周期);

   4)采用光子直读模式,无需像CCD经过光电转换。PHOTON II 非破坏性读取,自适应密集采样,无上限;

   5)精度≥18 Bit(硬件);

   6)测量方式:快门扫描,无快门连续扫描;

   7)读出方式:连续数据读出;

   8)感应单元:直接读取式硅阵列探测器系统;

   9)检测器活性单元面积:100 X 140 mm2无盲区,单一芯片;

   10)像素大小:135×135m²;

   11)硅阵列单元厚度:不小于1000m,对CuMo的响应效率>95%

   12)冷却方式:空气冷却,无需其他低温系统,也无需氮气吹扫干燥;

   13)动态范围:11048576(每个像素)。

   

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